三維掃描是一種集光、機、電和算法技術于一體的三維立體視覺光學測量技術，主要用于對物體空間結構、外觀尺寸和色彩紋理進行數(shù)據(jù)獲取，獲得物體表面的空間坐標集（點云信息）、色彩信息等。它能將現(xiàn)實環(huán)境里的實物立體信息轉換為計算機能直接處理的數(shù)字3D模型，為實物數(shù)字化提供了一種便捷的技術手段。根據(jù)三維數(shù)據(jù)測量采用的原理或媒介的不同，三維測量技術主要分為接觸式和非接觸式兩大類。

接觸式三維測量產(chǎn)品在測量過程中需要物理接觸到被測物體。典型的設備是三坐標測量機，通常用于尺寸檢測領域，特別是在需要精度的應用場景。但局限也比較明顯，如多位置尺寸測量時效率低下、對容易產(chǎn)生形變的物體無法準確測量，大型零件移動不便導致測量困難，耗時耗力。非接觸式三維掃描儀不需要直接接觸物體即可進行測量。結構光三維測量技術是目前制造業(yè)中應用比較廣泛的一種非接觸式主動測量方法，其特點是能夠對各類大、中、小型復雜結構對象進行高質量三維模型快速獲取，從而實現(xiàn)高精度、率的全尺寸三維測量。結構光三維掃描技術是基于光學三角測量原理，由光學投影器、相機、計算系統(tǒng)所組成，其工作原理為通過特定光源將包含有一定結構化信息的光學圖案投射到被測物體表面，再通過采集物體表面變形的光學圖案，采用三角測量法獲得物體表面的空間三維信息，終獲得待測物體表面的點云數(shù)據(jù)。